Taijun Liu, Slim Boumaiza et Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23922/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 53, no 11) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tmtt.2005.857105 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.857105 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:12 |
| Citer en APA 7: | Liu, T., Boumaiza, S., & Ghannouchi, F. M. (2005). Deembedding Static Nonlinearities and Accurately Identifying and Modeling Memory Effects in Wide-Band Rf Transmitters. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 53(11), 3578-3587. https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.857105 |
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