Planar Lightwave Circuit Six-Port Technique for Optical Measurements and Characterizations

I. Molina-Fernández, J. G. Wangüemert-Pérez, A. Ortega-Moñux, Rénato Bosisio et Ke Wu

Article de revue (2005)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/23848/
Titre de la revue:	Journal of Lightwave Technology (vol. 23, no 6)
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/jlt.2005.849944
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/jlt.2005.849944
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:	08 avr. 2025 02:12

Citer en APA 7:	Molina-Fernández, I., Wangüemert-Pérez, J. G., Ortega-Moñux, A., Bosisio, R., & Wu, K. (2005). Planar Lightwave Circuit Six-Port Technique for Optical Measurements and Characterizations. Journal of Lightwave Technology, 23(6), 2148-2157. https://doi.org/10.1109/jlt.2005.849944
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel