Planar Lightwave Circuit Six-Port Technique for Optical Measurements and Characterizations

I. Molina-Fernández, J. G. Wangüemert-Pérez, A. Ortega-Moñux, Rénato Bosisio, Ke Wu

Article de revue (2005)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/23848/
Titre de la revue :
Journal of Lightwave Technology ( vol. 23 , no 6 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/jlt.2005.849944
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/jlt.2005.849944
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:23848
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:57
Citer en APA 7:
Molina-Fernández, I., Wangüemert-Pérez, J. G., Ortega-Moñux, A., Bosisio, R., & Wu, K. (2005). Planar Lightwave Circuit Six-Port Technique for Optical Measurements and Characterizations. Journal of Lightwave Technology, 23(6), 2148-2157. https://doi.org/10.1109/jlt.2005.849944

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