M. Ouaddari, S. Delprat, F. Vidal, M. Chaker, Ke Wu
Article de revue (2005)
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Département:
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
(
vol.
53
,
no
4
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:23809
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:57
Citer en APA 7:
Ouaddari, M., Delprat, S., Vidal, F., Chaker, M., & Wu, K. (2005). Microwave characterization of ferroelectric thin-film material. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 53(4), 1390-1397. https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.845759
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