M. Ouaddari, S. Delprat, F. Vidal, M. Chaker et Ke Wu
Article de revue (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23809/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 53, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tmtt.2005.845759 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.845759 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
| Citer en APA 7: | Ouaddari, M., Delprat, S., Vidal, F., Chaker, M., & Wu, K. (2005). Microwave characterization of ferroelectric thin-film material. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 53(4), 1390-1397. https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.845759 |
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