<  Retour au portail Polytechnique Montréal

The loss of Adhesion of an nanoparticles to the Silicon Wafer Surface During N,N-Dimethyl Formamide(DMF) Evaporation : Understanding the Process Involved

D. Q. Yang et Edward Sacher

Communication écrite (2006)

Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/22386/
Nom de la conférence: 29th annual meeting of the adhesion society
Lieu de la conférence: Blacksburg, Va
Date(s) de la conférence: 2006-01-01 - 2006-12-31
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:18
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:01
Citer en APA 7: Yang, D. Q., & Sacher, E. (janvier 2006). The loss of Adhesion of an nanoparticles to the Silicon Wafer Surface During N,N-Dimethyl Formamide(DMF) Evaporation : Understanding the Process Involved [Communication écrite]. 29th annual meeting of the adhesion society, Blacksburg, Va.

Statistiques

Aucune statistique n'est disponible.

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document