D.-Q. Yang, Michel Meunier
et Edward Sacher
Article de revue (2006)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22383/ |
| Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 99, no 8) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.2193168 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.2193168 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:01 |
| Citer en APA 7: | Yang, D.-Q., Meunier, M., & Sacher, E. (2006). Room temperature air oxidation of nanostructured Si thin films with varying porosities as studied by X-ray photoelectron spectroscopy. Journal of Applied Physics, 99(8), 084315-1-084315-6. https://doi.org/10.1063/1.2193168 |
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