A. Martin, Jean-Yves Trépanier, Marcelo Reggio
, X. Y. Guo
Article de revue (2007)
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Titre de la revue
:
Plasma Science & Technology
(
vol.
9
,
no
6
)
Maison d'édition:
IOP Publishing
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:21637
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:17
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:54
Citer en APA 7:
Martin, A., Trépanier, J.-Y., Reggio, M., & Guo, X. Y. (2007). Transient Ablation Regime in Circuit Breakers. Plasma Science & Technology, 9(6), 653-656. https://doi.org/10.1088/1009-0630/9/6/02
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