A. Martin, Jean-Yves Trépanier, Marcelo Reggio et X. Y. Guo
Article de revue (2007)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie mécanique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/21637/ |
Titre de la revue: | Plasma Science & Technology (vol. 9, no 6) |
Maison d'édition: | IOP Publishing |
DOI: | 10.1088/1009-0630/9/6/02 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1088/1009-0630/9/6/02 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:17 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:05 |
Citer en APA 7: | Martin, A., Trépanier, J.-Y., Reggio, M., & Guo, X. Y. (2007). Transient Ablation Regime in Circuit Breakers. Plasma Science & Technology, 9(6), 653-656. https://doi.org/10.1088/1009-0630/9/6/02 |
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