Modeling of radiation, conductor, and dielectric losses in SIW components by the BI-RME method

M. Bozzi, L. Perregrini et Ke Wu

Communication écrite (2008)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/21042/
Nom de la conférence:	European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008)
Date(s) de la conférence:	2008-10-27 - 2008-10-31
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/emicc.2008.4772271
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/emicc.2008.4772271
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:04

Citer en APA 7:	Bozzi, M., Perregrini, L., & Wu, K. (octobre 2008). Modeling of radiation, conductor, and dielectric losses in SIW components by the BI-RME method [Communication écrite]. European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008). https://doi.org/10.1109/emicc.2008.4772271
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Répertoire des publications (EndNote)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel