Modeling of radiation, conductor, and dielectric losses in SIW components by the BI-RME method

Maurizio Bozzi, Luca Perregrini, Ke Wu

Communication écrite (2008)

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Nom de la conférence:
European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008)
Lieu de la conférence:
Amsterdam, Netherlands
Date(s) de la conférence:
2008-10-27 - 2008-10-28
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:21042
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:53
Citer en APA 7:
Bozzi, M., Perregrini, L., & Wu, K. (octobre 2008). Modeling of radiation, conductor, and dielectric losses in SIW components by the BI-RME method [Communication écrite]. European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008), Amsterdam, Netherlands. https://doi.org/10.1109/emicc.2008.4772271

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