Maurizio Bozzi, Luca Perregrini et Ke Wu
Communication écrite (2008)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/21042/ |
| Nom de la conférence: | European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008) |
| Lieu de la conférence: | Amsterdam, Netherlands |
| Date(s) de la conférence: | 2008-10-27 - 2008-10-28 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/emicc.2008.4772271 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/emicc.2008.4772271 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:15 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:59 |
| Citer en APA 7: | Bozzi, M., Perregrini, L., & Wu, K. (octobre 2008). Modeling of radiation, conductor, and dielectric losses in SIW components by the BI-RME method [Communication écrite]. European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC 2008), Amsterdam, Netherlands. https://doi.org/10.1109/emicc.2008.4772271 |
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