Communication écrite (2010)
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Département:
ISBN:
9781424489114
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
17th Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 2010)
Lieu de la conférence:
Beverly, Massachusetts, USA
Date(s) de la conférence:
2010-10-13 - 2010-10-16
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:17670
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:20
Citer en APA 7:
Sabané, A. (octobre 2010). Improving system testability and testing with microarchitectures [Communication écrite]. 17th Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 2010), Beverly, Massachusetts, USA. https://doi.org/10.1109/wcre.2010.47
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