Communication écrite (2010)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17670/ |
| Nom de la conférence: | 17th Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 2010) |
| Lieu de la conférence: | Beverly, Massachusetts, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2010-10-13 - 2010-10-16 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/wcre.2010.47 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/wcre.2010.47 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:59 |
| Citer en APA 7: | Sabané, A. (octobre 2010). Improving system testability and testing with microarchitectures [Communication écrite]. 17th Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 2010), Beverly, Massachusetts, USA. https://doi.org/10.1109/wcre.2010.47 |
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