Pierre Bernstein, Conor McLoughlin, Yohann Thimont, Frédéric Sirois et Jonathan Coulombe
Article de revue (2011)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17210/ |
Titre de la revue: | IEEE Transactions on Applied Superconductivity (vol. 21, no 3) |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/tasc.2010.2082484 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tasc.2010.2082484 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:54 |
Citer en APA 7: | Bernstein, P., McLoughlin, C., Thimont, Y., Sirois, F., & Coulombe, J. (2011). Investigation of power dissipation mechanisms in coated conductors at high current densities based on ultra-fast pulsed current measurements. IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), 3417-3420. https://doi.org/10.1109/tasc.2010.2082484 |
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