D. Y. Lei, Stéphane Kéna-Cohen
, B. Zou, P. K. Petrov, Y. Sonnefraud, J. Breeze, S. A. Maier et N. M. Alford
Article de revue (2012)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/15094/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Optics Express (vol. 20, no 4) |
| Maison d'édition: | Optical Society of America |
| DOI: | 10.1364/oe.20.004419 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oe.20.004419 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:52 |
| Citer en APA 7: | Lei, D. Y., Kéna-Cohen, S., Zou, B., Petrov, P. K., Sonnefraud, Y., Breeze, J., Maier, S. A., & Alford, N. M. (2012). Spectroscopic ellipsometry as an optical probe of strain evolution in ferroelectric thin films. Optics Express, 20(4), 4419-4427. https://doi.org/10.1364/oe.20.004419 |
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