Characterization of substrate anisotropy using substrate integrated waveguide technology

X. C. Zhu, W. Hong et Ke Wu

Communication écrite (2012)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/14414/
Nom de la conférence:	Asia-Pacific Microwave Conference (APMC 2012)
Lieu de la conférence:	Kaohsiung, Taiwan
Date(s) de la conférence:	2012-12-04 - 2012-12-07
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/apmc.2012.6421759
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/apmc.2012.6421759
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:54

Citer en APA 7:	Zhu, X. C., Hong, W., & Wu, K. (décembre 2012). Characterization of substrate anisotropy using substrate integrated waveguide technology [Communication écrite]. Asia-Pacific Microwave Conference (APMC 2012), Kaohsiung, Taiwan. https://doi.org/10.1109/apmc.2012.6421759
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