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Characterization of substrate anisotropy using substrate integrated waveguide technology

X. C. Zhu, W. Hong et Ke Wu

Communication écrite (2012)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/14414/
Nom de la conférence: Asia-Pacific Microwave Conference (APMC 2012)
Lieu de la conférence: Kaohsiung, Taiwan
Date(s) de la conférence: 2012-12-04 - 2012-12-07
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/apmc.2012.6421759
URL officielle: https://doi.org/10.1109/apmc.2012.6421759
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:11
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:51
Citer en APA 7: Zhu, X. C., Hong, W., & Wu, K. (décembre 2012). Characterization of substrate anisotropy using substrate integrated waveguide technology [Communication écrite]. Asia-Pacific Microwave Conference (APMC 2012), Kaohsiung, Taiwan. https://doi.org/10.1109/apmc.2012.6421759

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