A study on the relation between antipatterns and the cost of class unit testing

Aminata Sabané, Massimiliano Di Penta, Giuliano Antoniol et Yann-Gaël Guéhéneuc

Communication écrite (2013)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/13180/
Nom de la conférence:	17th European Conference on Software Maintenance and Reengineering (CSMR 2013)
Lieu de la conférence:	Genova, Italy
Date(s) de la conférence:	2013-03-05 - 2013-03-08
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/csmr.2013.26
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/csmr.2013.26
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:52

Citer en APA 7:	Sabané, A., Di Penta, M., Antoniol, G., & Guéhéneuc, Y.-G. (mars 2013). A study on the relation between antipatterns and the cost of class unit testing [Communication écrite]. 17th European Conference on Software Maintenance and Reengineering (CSMR 2013), Genova, Italy. https://doi.org/10.1109/csmr.2013.26
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