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Analyse de la formation des phases du système cuivre-germanium par diffraction des rayons X sur des échantillons d'épaisseur nanoscopique

Alexandre Aubin

Masters thesis (2013)

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Cite this document: Aubin, A. (2013). Analyse de la formation des phases du système cuivre-germanium par diffraction des rayons X sur des échantillons d'épaisseur nanoscopique (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/1308/
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Abstract

Avec la miniaturisation incessante des circuits dans le domaine de la microélectronique, pour des raisons de performance et de diminution de coûts, de nouveaux matériaux doivent être introduits dans leur fabrication pour pallier différents problèmes. La liste des défis à relever pour l'avancement de l'industrie de la microélectronique est tenue par l'ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors), qui met à jour régulièrement les pistes de solution envisagées pour chacun des domaines d'intérêt dans la fabrication de circuits intégrés, que ce soit la métallisation globale ou locale, la largeur de la grille des transistors, l'épaisseur de l'isolant de la grille et les matériaux la constituant, etc. Un des défis majeurs pour les prochaines générations de dispositifs microélectroniques est de développer un nouveau matériau pour remplacer le cuivre dans les interconnexions globales et locales, le cuivre étant actuellement le principal matériau conducteur utilisé dans les interconnexions des dispositifs de dernière génération. Aux dimensions de dispositifs à venir, le cuivre possède certains désavantages liés à sa grande diffusivité dans le silicium, ce qui force l'utilisation de barrières de diffusion d'une épaisseur minimale excessive dans les dispositifs récents. Un des matériaux prometteurs pour remplacer le cuivre est en fait un des composés binaires du système cuivre-germanium, soit la phase ε1-Cu3Ge. À l'époque où l'industrie cherchait un remplaçant à l'aluminium dans les interconnexions dans les années 1990, des travaux avaient révélé sa très faible résistivité d'environ 5.5μΩ∙cm à la température de la pièce [1], sa stabilité en contact avec le silicium et l'oxyde de silicium [2] et sa stabilité aux cours de recuits [3]. À l'époque, le cuivre avait été choisi à cause de son avantage au niveau de ses performances électriques dues à sa très faible résistivité de 1.68μΩ∙cm à la température de la pièce[4]. L'objectif de ce mémoire est d'étudier plus en détail la formation des phases du système cuivre germanium, et plus précisément la phase ε1-Cu3Ge, pour des applications dans l‟industrie de la microélectronique. Les tests effectués reposent sur l'utilisation de trois techniques de diffraction des rayons X avec source synchrotron, soit la diffraction des rayons X in situ pendant recuit avec mesure simultanée de la résistance par une sonde à quatre pointes, dans le but d'analyser la formation des phases, les balayages θ-2θ pour obtenir les pics de diffraction des phases présentes sur une large plage d'angles de diffraction suite à des trempes et finalement la----------abstract With the miniaturization of electronic devices, driven by cost reduction and performance increase, new materials have to be introduced in their fabrication process to solve many emerging problems. These challenges are brought forth by the ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors), a comity in charge of listing the technological needs for the upcoming generations of integrated circuits. Many fields of interest require new technological developments, from global to local interconnections, the transistor gate, the gate insulator thickness, etc. One of the major challenges mentioned in the ITRS roadmap is the need for a new interconnection material. Indeed, the need for a diffusion barrier for the copper lines in local and global interconnections of integrated circuits, the main technology in today‟s devices, is becoming more hindering with the decrease of the metallization lines‟ cross-section. In the 90‟s, a binary compound of copper and germanium, known as the ε1-Cu3Ge phase, was investigated as a replacement for aluminum because of its low resistivity, that can reach as low as 5.5μΩ∙cm [1], its stability in contact with both silicon and silicon oxide [2] as well as its thermal stability during anneals [3]. However, copper proved to be a better choice at the time because of its low bulk resistivity of 1.68μΩ∙cm at room temperature[4]. The objective of this master thesis is to re-examine the copper-germanium system, and more specifically the ε1-Cu3Ge, for future applications in the microelectronics industry. Different X ray diffraction techniques were used to obtain more information on the system, including in situ X ray diffraction during 3°C/s anneals in an inert helium atmosphere with simultaneous resistance measurement, θ-2θ scans to detect diffraction peaks of the present phases after sample quenching as well as partial acquisition of the reciprocal space of quenched samples which allowed to obtain pole figures for d-spacings of interest. Results obtained on germanium and copper bilayers of total thicknesses between 20nm and 89nm deposited on an inert silicon nitride layer using magnetron sputtering in an MRC-673 show that with an atomic copper concentration between 72 and 87%, the ε1-Cu3Ge phase starts to form between 180°C and 210°C during a 3°C/s ramp anneal. At 72% at. copper (50nm thickness) and 75% at. copper (20nm thickness), the ε1-Cu3Ge phase is stable above 500°C. However, the measured resistance of the 50nm sample is low between 220°C and 500°C while

Open Access document in PolyPublie
Department: Département de génie physique
Dissertation/thesis director: Patrick Desjardins and Christian Lavoie
Date Deposited: 14 Apr 2014 10:26
Last Modified: 27 Jun 2019 16:48
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/1308/

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