A. Ben Alaya, M. Bozzi, L. Perregrini, N. Raveu et Ke Wu
Communication écrite (2015)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/11301/ |
| Nom de la conférence: | IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2015) |
| Lieu de la conférence: | Phoenix, Arizona |
| Date(s) de la conférence: | 2015-05-17 - 2015-05-22 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/mwsym.2015.7167002 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/mwsym.2015.7167002 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:50 |
| Citer en APA 7: | Ben Alaya, A., Bozzi, M., Perregrini, L., Raveu, N., & Wu, K. (mai 2015). Comparison of fabrication tolerance sensitivity between substrate integrated waveguide and microstrip circuits [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2015), Phoenix, Arizona (3 pages). https://doi.org/10.1109/mwsym.2015.7167002 |
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