A. Ben Alaya, Maurizio Bozzi, Luca Perregrini, Nathalie Raveu, Ke Wu
Communication écrite (2015)
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Département:
ISBN:
9781479982752
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2015)
Lieu de la conférence:
Phoenix, Arizona
Date(s) de la conférence:
2015-05-17 - 2015-05-22
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11301
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:10
Citer en APA 7:
Ben Alaya, A., Bozzi, M., Perregrini, L., Raveu, N., & Wu, K. (mai 2015). Comparison of fabrication tolerance sensitivity between substrate integrated waveguide and microstrip circuits [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2015), Phoenix, Arizona (3 pages). https://doi.org/10.1109/mwsym.2015.7167002
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