F. Brunetto, J. Peuch et Samuel Bassetto
Communication écrite (2015)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/11270/ |
| Nom de la conférence: | 9th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon 2015) |
| Lieu de la conférence: | Vancouver, BC |
| Date(s) de la conférence: | 2015-04-13 - 2015-04-16 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/syscon.2015.7116766 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/syscon.2015.7116766 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:49 |
| Citer en APA 7: | Brunetto, F., Peuch, J., & Bassetto, S. (avril 2015). System risk analysis enhanced with system graph properties [Communication écrite]. 9th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon 2015), Vancouver, BC. https://doi.org/10.1109/syscon.2015.7116766 |
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