Floriane Brunetto, Julien Peuch, Samuel Bassetto
Communication écrite (2015)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
ISBN:
9781479959273
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
9th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon 2015)
Lieu de la conférence:
Vancouver, BC
Date(s) de la conférence:
2015-04-13 - 2015-04-16
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11270
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:10
Citer en APA 7:
Brunetto, F., Peuch, J., & Bassetto, S. (avril 2015). System risk analysis enhanced with system graph properties [Communication écrite]. 9th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon 2015), Vancouver, BC. https://doi.org/10.1109/syscon.2015.7116766
Statistiques
Dimensions
