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Chapitre de livre

Xiong, G., Moutanabbir, O., Reiche, M., Harder, R., & Robinson, I. (2018). Investigating strain in silicon-on-insulator nanostructures by coherent X-ray diffraction. Dans Fan, C., & Zhao, Z. (édit.), Synchrotron radiation in materials science (p. 239-274). Lien externe

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