Documents publiés en "2014"

Département de génie électrique

Hobeika, C., Pichette, S., Leonard, M. A., Thibeault, C., Boland, J. F., & Audet, Y. (juillet 2014). Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset [Communication écrite]. 20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2014), Catalunya, Spain. Lien externe