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Article de revue

Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. Lien externe

Liste produite: Fri Oct 16 15:34:46 2026 EDT.