Documents publiés en "2004"

Département de génie électrique

Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. Lien externe

Département de génie physique

Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. Lien externe