Documents publiés en "1999"

monter Monter d'un niveau
Pour citer ou exporter
Grouper par: Auteurs ou autrices | Département | Sous-type de document | Aucun groupement
Nombre de documents: 1

N

Nekili, M., Savaria, Y., & Bois, G. (1999). Spatial Characterization of Process Variations Via Mos Transistor Time Constants in Vlsi and Wsi. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34(1), 80-84. Lien externe

Liste produite: Tue Oct 20 09:36:56 2026 EDT.