Documents publiés en "1999"
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Département de génie électrique
Nekili, M., Savaria, Y., & Bois, G. (1999). Spatial Characterization of Process Variations Via Mos Transistor Time Constants in Vlsi and Wsi. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34(1), 80-84. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Nekili, M., Savaria, Y., & Bois, G. (1999). Spatial Characterization of Process Variations Via Mos Transistor Time Constants in Vlsi and Wsi. IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34(1), 80-84. Lien externe