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Chao, C. W., Hamel, L. A., & Yelon, A. (1997). Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H. Journal of Non-Crystalline Solids, 220(2-3), 254-260. Lien externe

Liste produite: Mon May 6 02:36:59 2024 EDT.