Documents publiés en "1996"

Département de génie électrique

Belabbes, N.-E., Guterman, A. J., Savaria, Y., & Dagenais, M. (1996). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, 43(2), 143-152. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Belabbes, N.-E., Guterman, A. J., Savaria, Y., & Dagenais, M. (1996). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, 43(2), 143-152. Lien externe