 | Monter d'un niveau |
Kennedy, G. G., St-Pierre, J., Guo, J., Gitzhofer, F., & Boulos, M. (avril 1995). Boron determination in SiC using two INAA techniques [Communication écrite]. 3rd International Workshop on Short-Time Activation Analysis, High-Rate Gamma Spectroscopy, and X-Ray Techniques, Vienna, Austria. Publié dans Journal of trace and microprobe techniques, 14(1). Non disponible
