Monter d'un niveau |
Bertrand, N., Drevillon, B., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (janvier 1996). In situ IR ellipsometry study of the adhesion and growth of plasma deposited silica thin films on stainless steel substrates [Communication écrite]. ICMCTF"96. Publié dans Thin solid films, 290-291. Lien externe