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Département de génie électrique

Bégin, M., Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., Selmi, L., & Ricco, B. (1996). Characterization of the transient behavior of a GaAs MESFET using dynamic I-V and S-parameter measurements. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 45(1), 231-237. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Bégin, M., Ghannouchi, F. M., Beauregard, F., Selmi, L., & Ricco, B. (1996). Characterization of the transient behavior of a GaAs MESFET using dynamic I-V and S-parameter measurements. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 45(1), 231-237. Lien externe

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