<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Documents publiés en "1995"

Monter d'un niveau
Pour citer ou exporter [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Nombre de documents: 8

Département de génie électrique

Lejmi, S. (1995). Synthèse de la testiabilité des circuits séquentiels par la méthode de resynchronisation [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming for BIST-sequential circuits [Communication écrite]. 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95, Seattle, WA, USA. Lien externe

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming, resynthesis, and partitioning for the pseudo-exhaustive testing of sequential circuits [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (octobre 1995). Synthesis and retiming for the pseudo-exhaustive BIST of synchronous sequential circuits [Communication écrite]. 1995 26th International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Lejmi, S. (1995). Synthèse de la testiabilité des circuits séquentiels par la méthode de resynchronisation [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming for BIST-sequential circuits [Communication écrite]. 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95, Seattle, WA, USA. Lien externe

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming, resynthesis, and partitioning for the pseudo-exhaustive testing of sequential circuits [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe

Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (octobre 1995). Synthesis and retiming for the pseudo-exhaustive BIST of synchronous sequential circuits [Communication écrite]. 1995 26th International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe

Liste produite: Thu May 16 02:16:51 2024 EDT.