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Blaquière, Y., Gagné, G., Savaria, Y., & Évéquoz, C. (novembre 1995). Cost analysis of a new algorithmic-based soft-error tolerant architecture [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1995), Lafayette, LA, USA. Lien externe
Blaquière, Y., Gagné, G., Savaria, Y., & Évéquoz, C. (1995). A new efficient algorithmic-based seu tolerant system architecture. IEEE Transactions on Nuclear Science, 42(6), 1599-1606. Lien externe
Blaquière, Y., Gagné, G., Savaria, Y., & Évéquoz, C. (1995). A new efficient algorithmic-based seu tolerant system architecture. IEEE Transactions on Nuclear Science, 42(6), 1599-1606. Lien externe