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Article de revue

Laurin, J.-J., Zaky, S. G., & Balmain, K. G. (1995). On the prediction of digital circuit susceptibility to radiated EMI. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 37(4), 528-535. Lien externe

Laurin, J.-J., Zaky, S. G., & Balmain, K. G. (1995). Prediction of delays induced by in-band RFI in CMOS inverters. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 37(2), 167-174. Lien externe

Liste produite: Wed Jan 1 03:00:01 2025 EST.