Documents publiés en "1994"

Département de génie électrique

Slamani, M., Kaminska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Slamani, M., Kaminska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe