Documents dont l'auteur est "Abderrahman, Abdessatar"

Pour citer ou exporter
Grouper par: Auteurs ou autrices | Date de publication | Sous-type de document | Aucun groupement
Aller à : A
Nombre de documents: 3

A

Abderrahman, A., Cerny, E., & Kamińska, B. (1999). Worst Case Tolerance Analysis and Clp-Based Multifrequency Test Generation for Analog Circuits. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(3), 332-345. Lien externe

Abderrahman, A. (1997). Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Disponible

Abderrahman, A. (1994). Estimation du bruit engendré par la commutation simultanée dans les circuits combinatoires CMOS statiques [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Liste produite: Sat Oct 10 03:23:31 2026 EDT.