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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
Chaque lien représente une collaboration sur la même publication. L'épaisseur du lien représente le nombre de collaborations.
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Vous pouvez cliquer sur les noeuds et les liens pour les mettre en surbrillance et déplacer les noeuds en les glissant.
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Xiong, G., Moutanabbir, O., Reiche, M., Harder, R., & Robinson, I. (2014). Coherent X-ray diffraction imaging and characterization of strain in silicon-on-insulator nanostructures. Advanced Materials, 26(46), 7747-7763. Disponible
