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Communication écrite

Sylla, I. T., Slamani, M., Kaminska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. Lien externe

Liste produite: Thu May 2 04:00:26 2024 EDT.
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