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Article de revue

Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. Lien externe

Liste produite: Tue Dec 31 05:17:30 2024 EST.