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Documents dont l'auteur est "Trudeau, Yves"

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Aller à : 1989
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1989

Lu, Z. H., Azelmad, A., Trudeau, Y., & Yelon, A. (1989). Damage profile of ion-implanted GaAs by x-ray photoelectron spectroscopy. Applied Physics Letters, 55(9), 846-848. Lien externe

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