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Documents dont l'auteur est "Trouborst, P."

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Monte, G., Antaki, B., Patenaude, S., Savaria, Y., Thibeault, C., & Trouborst, P. (avril 2001). Tools for the characterization of bipolar CML testability [Communication écrite]. 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001), Marina Del Rey, CA, USA. Lien externe

Liste produite: Sat Apr 20 04:35:12 2024 EDT.
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