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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur Djallel Eddine Touati. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Oukaira, A., Said, D., Touati, D. E., El-Zarif, N., Hassan, A., Savaria, Y., & Lakhssassi, A. (2024). Novel peak-source-scanning (NPSS) model for thermal control of systems-in-package (SiP). IEEE Access, 12, 14842-14853. Disponible
Oukaira, A., Touati, D. E., Hassan, A., Ali, M., Savaria, Y., & Lakhssassi, A. (octobre 2022). FEM-based Thermal Profile Prediction for Thermal Management of System-on-Chips [Communication écrite]. 8th International Conference on Optimization and Applications (ICOA 2022), Genoa, Italy (4 pages). Lien externe
Oukaira, A., Touati, D. E., Hassan, A., Ali, M., Savaria, Y., & Lakhssassi, A. (août 2021). Thermo-mechanical Analysis and Fatigue Life Prediction for Integrated Circuits (ICs) [Communication écrite]. IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2021), Lansing, MI, USA. Lien externe
Touati, D. E., Oukaira, A., Hassan, A., Ali, M., Savaria, Y., & Lakhssassi, A. (2024). Thermal analysis of system in package considering boundary conditions for long-term reliability studies. IEEE Access, 12, 3396373 (12 pages). Disponible
Touati, D. E., Oukaira, A., Hassan, A., Ali, M., Lakhssassi, A., & Savaria, Y. (2023). Accurate On-Chip Thermal Peak Detection Based on Heuristic Algorithms and Embedded Temperature Sensors. Electronics, 12(13), 18 pages. Disponible