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Documents dont l'auteur est "Sion, G."

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Sion, G., Blaquiere, Y., & Savaria, Y. (juillet 2015). Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece. Lien externe

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