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Documents dont l'auteur est "Shin, Donghwan"

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Biagiola, M., Cardozo, N., Shin, D., Khomh, F., Stocco, A., & Riccio, V. (2023). Summary of the Fourth International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest 2023). ACM SIGSOFT Software Engineering Notes, 48(4), 39-40. Lien externe

Liste produite: Fri May 17 04:20:02 2024 EDT.
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