Matteo Biagiola, Nicolás Cardozo, Donghwan Shin, Foutse Khomh
, Andrea Stocco, Vincenzo Riccio
Article de revue (2023)
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Département:
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Titre de la revue
:
ACM SIGSOFT Software Engineering Notes
(
vol.
48
,
no
4
)
Maison d'édition:
ACM
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:56860
ORCID
Date du dépôt:
20 déc. 2023 11:33
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:16
Citer en APA 7:
Biagiola, M., Cardozo, N., Shin, D., Khomh, F., Stocco, A., & Riccio, V. (2023). Summary of the Fourth International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest 2023). ACM SIGSOFT Software Engineering Notes, 48(4), 39-40. https://doi.org/10.1145/3617946.3617953
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