Summary of the Fourth International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest 2023)

Matteo Biagiola, Nicolás Cardozo, Donghwan Shin, Foutse Khomh, Andrea Stocco et Vincenzo Riccio

Article de revue (2023)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/56860/
Titre de la revue:	ACM SIGSOFT Software Engineering Notes (vol. 48, no 4)
Maison d'édition:	ACM
DOI:	10.1145/3617946.3617953
URL officielle:	https://doi.org/10.1145/3617946.3617953
Date du dépôt:	20 déc. 2023 11:33
Dernière modification:	05 avr. 2024 12:04

Citer en APA 7:	Biagiola, M., Cardozo, N., Shin, D., Khomh, F., Stocco, A., & Riccio, V. (2023). Summary of the Fourth International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest 2023). ACM SIGSOFT Software Engineering Notes, 48(4), 39-40. https://doi.org/10.1145/3617946.3617953
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