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Popovici, D., Piyakis, K., Meunier, M., & Sacher, E. (1998). Angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy comparison of copper/Teflon AF1600 and aluminum/Kapton metal diffusion. Journal of Applied Physics, 83(1), 108-111. Lien externe
Popovici, D., Piyakis, K., Sacher, E., & Meunier, M. (novembre 1995). Terraced copper growth deposited onto Teflon AF1600 by the excimer laser irradiation of Cu(hfac) TMVS [Communication écrite]. MRS Fall Symposium, Boston, MA, USA. Lien externe
Piyakis, K., Sacher, E., Domingue, A., Pireaux, J.-J., Leclerc, G., Bertrand, P., & Lhoest, J. B. (1995). Multitechnique analysis of the outermost layers of the teflon PFA surface. Applied Surface Science, 84(3), 227-235. Lien externe
Sarra-Bournet, C., Poulin, S., Piyakis, K., Turgeon, S., & Laroche, G. (2010). ToF-SIMS multivariate characterization of surface modification of polymers by N2-H2 atmospheric pressure dielectric barrier discharge. Surface and Interface Analysis, 42(2), 102-109. Lien externe
