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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
Chaque lien représente une collaboration sur la même publication. L'épaisseur du lien représente le nombre de collaborations.
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Vous pouvez cliquer sur les noeuds et les liens pour les mettre en surbrillance et déplacer les noeuds en les glissant.
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Jay, A., Hémeryck, A., Richard, N., Martin-Samos, L., Raine, M., Le Roch, A., Mousseau, N., Goiffon, V., Paillet, P., Gaillardin, M., & Magnan, P. (2018). Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon. Part III: First Principle Characterization of Defect Properties. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65(2), 724-731. Lien externe
