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Documents dont l'auteur est "Lafrance, L. P."

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2004

Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. Lien externe

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