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Documents dont l'auteur est "Kafrounni, M."

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Kafrounni, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1997). Cost model for VLSI/MCM systems [Communication écrite]. IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. Lien externe

Liste produite: Fri Dec 20 05:05:14 2024 EST.