<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Documents dont l'auteur est "Hahnel, Angelika"

Monter d'un niveau
Pour citer ou exporter [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Grouper par: Auteurs ou autrices | Date de publication | Sous-type de document | Aucun groupement
Aller à : H
Nombre de documents: 1

H

Hahnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hontschel, J., & Engelmann, H.-J. (2012). Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 18(1), 229-40. Lien externe

Liste produite: Thu Mar 28 04:08:30 2024 EDT.