Documents dont l'auteur est "Duval, O."

Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. Lien externe

Duval, O., & Savaria, Y. (mai 2004). An on-chip delay measurements module for nanostructures characterization [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2004), Vancouver, BC, Canada. Lien externe