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Documents dont l'auteur est "Dulipovici, Andrei"

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Hasib, O. A.-T., Crepeau, D., Awad, T., Dulipovici, A., Savaria, Y., & Thibeault, C. (avril 2018). Exploiting built-in delay lines for applying launch-on-capture at-speed testing on self-timed circuits [Communication écrite]. 36th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2018), Los Alamitos, CA (6 pages). Lien externe

Liste produite: Thu Mar 28 03:48:30 2024 EDT.